Настоящая конференция охватывает практически все актуальные направления использования рентгеновского излучения для анализа и диагностики веществ и материалов: рентгеновская дифрактометрия, порошковая и монокристальная, рентгеновская спектрометрия по первичным спектрам (электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ) и по вторичным спектрам – рентгенофлуоресцентный анализ. В программу конференции включены работы в области рентгеновской спектрометрии поглощения, в частности спектрометрия главного края рентгеновского поглощения (XANES) и исследование дальней тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения (EXAFS). Применению синхротронных источников во всех видах рентгеновской спектрометрии будет посвящена отдельная секция. В рамках специальной секции будут обсуждаться проблемы рентгеновской рефлектометрии и применения для диагностических целей малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Работа конференции, публикуемые материалы внесут вклад в решение фундаментальных проблем материаловедения, создания новых функциональных материалов.

Во время работы конференции будет организована демонстрация современного научного оборудования. 

Планируется публикация материалов конференции в журналах: «Журнал неорганической химии», «Координационная химия», «Заводская лаборатория. Диагностика материалов», «Аналитика», входящих в Белый список.

Язык конференции: русский.
Форматы докладов: пленарный, устный, стендовый. Заочное и дистанционное участие не предполагается.